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焊接接线盒
在组件背面引线处焊接一个盒子，以利于电池与其他设备或电池间的连接。
高压测试
高压测试是指在组件边框和电极引线间施加一定的电压，测试组件的耐压性和绝缘强度，以组件在恶劣的自然条件（雷击等）下不被损坏。
收益简表
自发自用80%余电上网20%模式：
项目容量（MW） 0.1
项目总投资（万元） 35
首年
首年发电量（万kWh） 12.25
首年电价收益（万元） 8.80
首年总收益（万元） 8.80
年均
年均发电量（万kWh） 10.96
年均电价收益（万元） 7.88
年均总收益（万元） 7.88
总发电量
25 年总发电量（万kWh） 273.91
25 年总电价收益（万元） 196.94
25 年总收益（万元） 196.94
济南上明能源科技有限公司0.1MW 光伏项目收益分析
光伏组件性能的检测
光伏电站运行一段时间后，需要进行检测，来确定光伏电站的性能。涉及光伏组件的，主要包含以下项目。
1功率衰减测试
光伏组件运行1年和25年后的衰减率到底有多少？25年太久，现在可能还没有运行这么长时间的电站。按国家标准，晶硅电池2年的衰减率应该在3.2%以内。但目前这个数据还真的很难说，原因有三：
1）光伏组件出场功率是用实验室标准光源和测试环境标定的，但似乎国内不同厂家的标准光源是存在一定的差异的。那在A厂标定的250W的组件，到了B厂，可能就是245W的组件的。
2）现场检测所用的仪器度较差，据说5%以内的误差都是可以接受的。用误差5%的仪器，测2%（1年）的衰减，难度有些大，结果也令人怀疑。
3）现场的测试条件跟实验室的相差较大，正好在1000W/m2、25℃的时间太少了！所以，就需要进行一个测试值向标准值的转化，而输出功率与辐照度仅在一个很小的区间内正相关。如图2所示，即使在800W/m2时，也不是正相关的。因此，在转化的时候，肯定存在误差。
另外，很多组件出场可能就是-3%的功率偏差，还没衰减，3%就直接没了……
2EL测试
电位诱发衰减效应（PID，PotentialInduced Degradation）是电池组件长期在高电压作用下，使玻璃、封装材料之间存在漏电流，大量电荷狙击在电池片表面，使得电池表面的钝化效果恶化，导致组件性能低于设计标准。PID现象严重时，会引起一块组件功率衰减50%以上，从而影响整个组串的功率输出。高温、高湿、高盐碱的沿海地区易发生PID现象。
隐裂是电池片的缺陷。由于晶体结构的自身特性，晶硅电池片十分容易发生破裂。晶体硅组件生产的工艺流程长，许多环节都可能造成电池片隐裂（据西安交大杨宏老师的资料，仅电池生产阶段就有约200种原因）。隐裂产生的本质原因，可归纳为在硅片上产生了机械应力或热应力。
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