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国产光谱仪,江苏天瑞光谱仪,天瑞仪器,天瑞光谱仪 |
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采用大面积高分辨率探测器，有效降低检出限，提高测试精度
全自动智能控制方式，一键式操作!
开机自动退出自检、复位
开盖自动退出样品台，升起Z轴测试平台，方便放样精密的三维移动平台
的样品观测系统
的图像识别
轻松实现深槽样品的检测
四种微孔聚焦准直器，自动切换
镀镍器件是比较常见的电镀器件，其镍镀层在保护铜基体免受氧化同时还能起到美观的作用。使用Thick800A仪器对铜镀镍样品实际测试Ni层厚度，七次的结果都非常接近，仪器的重现性很好，相对误差范围小于5%，完全满足金属电镀行业的使用需求
是全自动的仪器，用于测量各种金属和非金属基体上的镀层厚度。它采用X射线荧光光谱分析技术，通过分析样品表面反射的X射线荧光光谱，来确定镀层的成分和厚度。这种测厚仪广泛应用于电子、汽车、航空航天、化工等领域，可以快速准确地测量各种镀层的厚度，为质量控制和产品研发提供重要数据支持。
半导体膜厚测试仪是一种用于测量半导体材料薄膜厚度的仪器。它通常使用光学或X射线技术来获取薄膜的厚度数据。该仪器可以用于研究和生产中的半导体材料，以确保薄膜的厚度符合设计要求，并且可以帮助改善薄膜生长和表征过程。半导体膜厚测试仪在半导体工业中起着至关重要的作用，能够提高生产效率和产品质量。
硅片镀钛镍银测厚仪是一种用于测量硅片上镀有钛、镍、银等金属薄膜厚度的仪器。通过这种仪器，可以地测量金属薄膜的厚度，帮助生产厂家控制生产质量和提高生产效率。
这种测厚仪通常采用非接触式测量技术，能够快速、准确地测量金属薄膜的厚度，并且通常具有高分辨率和。使用这种设备，生产厂家可以实时监测金属薄膜的厚度变化，及时调整生产工艺，确保产品质量。
总的来说，硅片镀钛镍银测厚仪是一种在半导体生产、光伏产业等领域广泛应用的重要设备，可以帮助生产厂家实现控制和监测金属薄膜的厚度，提高生产效率和产品质量。
镀锗厚度测试仪是一种用于测量材料表面上锗膜的厚度的仪器。通过该仪器，可以准确快速地检测出锗膜的厚度，从而材料表面的质量和性能。镀锗厚度测试仪通常采用光学或者电磁的原理来进行测量，具有、高灵敏度和易操作等特点，广泛应用于电子、光学、半导体等领域。
| 主营行业：涂层检测仪 |
| 公司主营：镀层测厚仪,rohs检测仪器,手持式光谱仪,土壤重金属检测仪 |
| 主营地区：江苏昆山 |
| 企业类型：股份有限公司(上市) |
| 注册资金：人民币461760000万 |
| 公司成立时间：2006-07-04 |
| 员工人数：500-999 |
| 经营模式：生产型 |
| 最近年检时间：2018年 |
| 登记机关：苏州市工商行政管理局 |
| 经营范围：制造：原子荧光光谱仪、气相色谱仪、原子吸收分光光度计。研究、开发、生产、销售、技术服务：化学分析仪器、环境检测仪器、生命科学仪器、测量与控制仪器、医疗器械；研究、开发、制作软件产品，销售自产产品；货物及技术的进出口业务；自有房屋租赁；计算机信息系统集成；环境检测、空气质量检测、水质监测、土壤检测；环境工程、市政工程、水利工程的咨询、设计、施工及运营管理。（前述经营项目中法律、行政法规规定前置许可经营、限制经营、禁止经营的除外）（依法须经批准的项目，经相关部门批准后方可开展经营活动） |
| 公司邮编：215300 |
| 公司电话：0511-57017357 |
| 公司传真：0512-50355809 |
| 公司邮箱：493963787@qq.com |
| 公司网站：www.skyray-instrument.com |
